Истраживачи

Филтрирано по:
Година:  [2010 TO 2019]

Резултати 1-20 од 26
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2019Procedure merenja električnih karakteristika naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageĐorić-Veljković, Snežana M.  ; Davidović, Vojkan S.  ; Danković, Danijel M.  ; Golubović, Snežana M. ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2018A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav Научна критика и полемика
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2018Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2018Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanjuDavidović, Vojkan S.  ; Danković, Danijel M.  ; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Ivica Manić  ; Prijić, Zoran D.  ; Prijić, Aneta P.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2018NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub  Научни чланак
24M24 - Водећи национални часопис категорије M24
2018NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistorsStojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2017Ispitivanje višeslojnih HfO2/Al2O3 struktura za memorijske komponenteDavidović, Vojkan S.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel M.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2017Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric StacksDavidović, Vojkan S.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel M.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2016NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS TransistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilic, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2016Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
24M24 - Водећи национални часопис категорије M24
2015Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFETDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2015Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradationDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2015Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2014Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS TransistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2014Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS TransistorsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  Поглавље у монографији
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2013The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power VdmosfetĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2013Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
23M23 - Међународни часопис категорије M23
2013Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2012Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjimaDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2012Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETSDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
53M53 - Национални часопис категорије M53