Истраживачи
Golubović, Snežana
Резултати 21-26 од 26
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2011 | NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
