Истраживачи

Филтрирано по:
Година:  [2010 TO 2019]

Резултати 21-26 од 26
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2011Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2011NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditionsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2010Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressĐorić-Veljković, Snežana  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  Конференцијски рад
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2010Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressingDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias StressManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.