Истраживачи

Резултати 41-60 од 71
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2008Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor TransistorsDavidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2008Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007Библиографија радова проф. др Нинослава СтојадиновићаГолубовић, Снежана Остало
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006Efekti naprezanja oksida gejta VDMOS tranzistora snageGolubović, Snežana ; Ђорић-Вељковић, Снежана; Manić, Ivica  ; Давидовић, ВојканМонографија
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005Effects of electrical stressing in power VDMOSFETSStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2003Effects of electrical stressing in power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
1995Sensitivity and fading of pMOS dosimeters with thick gate oxideRistić, Goran  ; Golubović, Snežana ; Pejović, Momčilo Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Analiza formiranja i odžarivanja radijacionih defekata kod MOS tranzistoraGolubović, Snežana Докторска дисертација
70M70 - Одбрањена докторска дисертација
1995Temperature-induced rebound in Al-gate NMOS transistorsPejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran  Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.