Истраживачи
Golubović, Snežana
Резултати 41-60 од 71
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2008 | Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2008 | Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Библиографија радова проф. др Нинослава Стојадиновића | Голубовић, Снежана | Остало | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | Efekti naprezanja oksida gejta VDMOS tranzistora snage | Golubović, Snežana | Монографија | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2005 | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 1995 | Sensitivity and fading of pMOS dosimeters with thick gate oxide![]() | Ristić, Goran | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1995 | Analiza formiranja i odžarivanja radijacionih defekata kod MOS tranzistora | Golubović, Snežana | Докторска дисертација | 70M70 - Одбрањена докторска дисертација |
| 1995 | Temperature-induced rebound in Al-gate NMOS transistors![]() | Pejović, Momčilo | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
