Истраживачи
Davidović, Vojkan
Година
- 24 2020 - 2026
- 40 2010 - 2019
- 30 2000 - 2009
- 1 1990 - 1999
Мп-кат.
- 48 M30/M60
- 28 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 5 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M20/M50
- 3 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 2 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M51 - Водећи национални часопис категорије M51
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 41-60 од 95
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2016 | MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORS | Marjanović, Miloš | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2016 | NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2016 | On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2016 | Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
| 2015 | Modeling and PSPICE simulation of NBTI effects in VDMOS transistors | Marjanović, Miloš | Научни чланак | 51M51 - Водећи национални часопис категорије M51 |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2015 | Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2015 | Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Modeliranje i PSPICE simulacija NBTI efekata kod VDMOS tranzistora | Marjanović, Miloš B. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snage | Aleksandar Ilić; Prijić, Zoran | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS Transistors![]() | Stojadinović, Ninoslav | Поглавље у монографији | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2013 | The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2013 | Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
| 2013 | Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 53M53 - Национални часопис категорије M53 |
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2011 | NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
