Истраживачи
Davidović, Vojkan
Година
- 24 2020 - 2026
- 40 2010 - 2019
- 30 2000 - 2009
- 1 1990 - 1999
Мп-кат.
- 48 M30/M60
- 28 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 5 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M20/M50
- 3 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 2 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M51 - Водећи национални часопис категорије M51
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 61-80 од 95
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2009 | Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2009 | Analiza tehnika za razdvajanje efekata naelektrisanja u oksidu gejta i površinskih stanja kod VDMOS tranzistora snage | Davidović, Vojkan | Докторска дисертација | 70M70 - Одбрањена докторска дисертација |
| 2008 | Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2008 | Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Influence of polysilicon film thickness on radiation response of advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors | Davidovic, Vojkan S | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2007 | Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2005 | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2004 | Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs | Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
