Истраживачи
Davidović, Vojkan
Година
- 24 2020 - 2026
- 40 2010 - 2019
- 30 2000 - 2009
- 1 1990 - 1999
Мп-кат.
- 48 M30/M60
- 28 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 5 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M20/M50
- 3 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 2 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M51 - Водећи национални часопис категорије M51
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 81-95 од 95
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2004 | Effects of hot carrier and irradiation stresses on advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors | Kouvatsos, DN; Davidovic, Vojkan S | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2002 | Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2002 | Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2002 | Effects of positive gate bias stress on radiation response in power VDMOSFETs | Stojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2001 | Analytical modelling of electrical characteristics in gamma-irradiated power VDMOS transistors![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2001 | Modeling of gamma-irradiation and lowered temperature effects in power vertical double-diffused metal-oxide-semiconductor transistors (Erratum - errors in Authors - vol 38, pg 4699, 1999)</strong></font> | Stojadinovic, Ninoslav D; Golubovic, Snezana M; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S | Остало | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2001 | Effects of elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs | Stojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2001 | Mechanisms of positive gate bias stress induced instabilities in power VDMOSFETs![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2001 | Gamma-irradiation effects in power MOSFETs for application in communication satellites | Stojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2000 | Radiation effects in low-temperature stressed power VDMOS transistors | Djoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1995 | Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
