Истраживачи
Danković, Danijel
Резултати 141-160 од 162
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2011 | NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Realizacija 'inteligentnog' semafora na bazi Nanoboard-a 3000![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2009 | Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2008 | Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2005 | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
