Истраживачи

Резултати 141-160 од 162
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2011NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditionsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2010Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressĐorić-Veljković, Snežana  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  Конференцијски рад
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2010Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressingDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias StressManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Realizacija 'inteligentnog' semafora na bazi Nanoboard-a 3000Danković, Danijel  ; Vladica Sinadinović; Dušan Milošević; Prijić, Zoran  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2009Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor TransistorsDavidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2008Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2005Effects of electrical stressing in power VDMOSFETSStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2003Effects of electrical stressing in power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.