Истраживачи
Danković, Danijel
Мп-кат.
- 36 M30/M60
- 10 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 5 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 4 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M20/M50
- 2 M10/M40
- 2 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 1 M51 - Водећи национални часопис категорије M51
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- 1 M80
- следећи >
Година - распон
Резултати 21-40 од 65
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2017 | Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel M. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2017 | Consideration of conduction mechanisms in high-k dielectric stacks as a tool to study electrically active defects | Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel | Научни чланак | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
| 2016 | PSPICE Modeling of Ionizing Radiation Effects in P-channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2016 | MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORS | Marjanović, Miloš | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2016 | NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2016 | Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
| 2016 | On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2015 | Modeling and PSPICE simulation of NBTI effects in VDMOS transistors | Marjanović, Miloš | Научни чланак | 51M51 - Водећи национални часопис категорије M51 |
| 2015 | High frequency characterization and modelling of ceramic capacitors | Marjanović, Miloš | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2015 | Characterization and PSPICE Modeling of Ceramic-Core Inductors at High Frequencies | Marjanović, Miloš | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2015 | Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2015 | Practical aspects of cellular M2M systems design | Prijić, Aneta | Научни чланак | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
| 2015 | Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2014 | Recoverable and permanent components of V<inf>T</inf> shift in pulsed NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Manić, Ivica Đ. | Научни чланак | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
| 2014 | Modeliranje i PSPICE simulacija NBTI efekata kod VDMOS tranzistora | Marjanović, Miloš B. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Prijić, Zoran | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
