Истраживачи
Đorić-Veljković, Snežana
Година
- 32 2020 - 2026
- 62 2010 - 2019
- 23 2000 - 2009
- 7 1990 - 1999
Мп-кат.
- 71 M30/M60
- 27 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 9 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 5 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 3 M52 - Национални часопис категорије M52
- 2 M20/M50
- 2 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M21a+ - Водећи међународни часопис категорије M21a+
- следећи >
Година - распон
Резултати 101-120 од 124
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2007 | Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2005 | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2003 | Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs![]() | Đoric-Veljkovic, Snezana M | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2002 | Effects of positive gate bias stressing and subsequent recovery treatment in power VDMOSFETs![]() | Stojadinovic, N.; Manic, I.; Đoric-Veljkovic, S. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2002 | Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2002 | Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2002 | Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2001 | Mechanisms of positive gate bias stress induced instabilities in power VDMOSFETs![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 1999 | Power VDMOS transistors response to lowered temperature conditions![]() | Đoric-Veljkovic, S. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1999 | Modeling of γ-Irradiation and Lowered Temperature Effects in Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors![]() | Golubovic, Snezana; Đoric-Veljkovic, Snezana | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 1998 | Modeling Radiation-Induced Mobility Degradation in MOSFETs![]() | Stojadinović, N.; Golubović, S.; Davidović, V.; Đorić-Veljković, S. | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
