Истраживачи

Резултати 101-120 од 124
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2007Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2005Effects of electrical stressing in power VDMOSFETSStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2003Effects of electrical stressing in power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2003Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETsĐoric-Veljkovic, Snezana M  ; Đoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav DНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002Effects of positive gate bias stressing and subsequent recovery treatment in power VDMOSFETsStojadinovic, N.; Manic, I.; Đoric-Veljkovic, S.  ; Davidovic, V.; Golubovic, S.; Dimitrijev, S.Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETsStojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Davidović, Vojkan  ; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stressStojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S  ; Golubovic, Snezana MНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2002Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETsStojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S  ; Golubovic, Snezana MНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2001Mechanisms of positive gate bias stress induced instabilities in power VDMOSFETsStojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj  ; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Davidovic, Vojkan S  ; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
1999Power VDMOS transistors response to lowered temperature conditionsĐoric-Veljkovic, S.  ; Golubovic, S.; Davidovic, V.; Stojadinovic, N.Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1999Modeling of γ-Irradiation and Lowered Temperature Effects in Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor TransistorsGolubovic, Snezana; Đoric-Veljkovic, Snezana  ; Davidovic, V.; Stojadinovic, NinoslavНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
1998Modeling Radiation-Induced Mobility Degradation in MOSFETsStojadinović, N.; Golubović, S.; Davidović, V.; Đorić-Veljković, S.  ; Dimitrijev, S.Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22