Истраживачи

Резултати 81-100 од 124
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2012Inovativni sistemi i instalacije za - uvođenje svetlosti u objekteRančić, Sofija  ; Đorić Veljković, Snežana  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2012Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETSDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
53M53 - Национални часопис категорије M53
2012Innovative Systems and Installation for Providing of Light Into the BuildingsĐorić-Veljković, Snežana M.  ; Rančić, Sofija M.  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2011Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2011NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditionsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2011Comparative analysis of thermal characteristics of wooden and built family housesMarković, Nemanja B.  ; Stojković, Nenad V.  ; Đorić-Veljković, Snežana M.  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2011Challanges and Possibilities of Application of OLED Light SourcesĐorić-Veljković, Snežana  ; Karamarković, Jugoslav  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2011Interakcija jonizujućeg zračenja sa materijomZdravković, Snežana; Đorić-Veljković, Snežana  ; Kocić, MomčiloКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressĐorić-Veljković, Snežana  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressingDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  Конференцијски рад
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2010Priroda i svojstva elektromagnetnog zračenja i termografijaĐorić-Veljković, Snežana  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Puasonov potok događaja kao model za prolazak vozila kroz presek putaPetrović, Miloš; Đorić-Veljković, Snežana  ; Karamarković, Jugoslav  Научни чланак
52M52 - Национални часопис категорије M52
2010Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias StressManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2009Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor TransistorsDavidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2008Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2008Negative bias temperature stress and annealing effects in p-channel power VDMOSFETsDankovic, D.; Manic, I.; Davidovic, V.; Đoric-Veljkovic, S.  ; Golubovic, S.; Stojadinovic, N.Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.