Истраживачи

Резултати 101-120 од 148
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2007Physico-chemical processes in metal-oxide-semiconductor transistors with thick gate oxide during high electric field stressRistic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar BНаучни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
2006Defect behaviors in n-channel power VDMOSFETs during HEFS and thermal post-HEFS annealingRistic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar BНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2006Screen optics effects on detective quantum efficiency in digital radiography: Zero-frequency effectsLubinsky, Anthony; Zhao, Wei; Ristić, Goran  ; Rowlands, JohnНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2005Gamma and UV radiation effects on breakdown voltage of neon-filled tubePejovic, Milic M  ; Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005Fowler-Nordheim high electric field stress of power VDMOSFETsRistic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar BНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2004X-ray imaging performance of structured cesium iodide scintillatorsZhao, Wei; Ristić, Goran  ; Rowlands, JohnНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2004Inherent imaging performance of cesium iodide scintillatorsZhao, Wei; Ristić, Goran  ; Rowlands, JohnКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2003Comparison between post-irradiation annealing and post-high electric field stress annealing of n-channel power VDMOSFETsRistic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar BНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2002Electrical breakdown in low pressure gasesPejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  ; Karamarkovic, Jugoslav P  Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2002Characterisation of radiation response of 400 nm implanted gate oxide RADFETsJakšić, Aleksandar; Ristić, Goran  ; Pejovic, Milić  ; Mohammadzadeh, Ali; Lane, WilliamКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Influence of tube wall material type and tube temperature on the recombination processes of nitrogen ions and atoms in afterglowPejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  ; Milosavljevic, Cedomir S; Pejovic, Milic M  Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2002Gamma-ray irradiation and post-irradiation responses of high dose range RADFETsJaksic, Aleksandar B; Ristic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Mohammadzadeh, A; Sudre, C; Lane, WНаучни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
2002Memory effects in argon, nitrogen, and hydrogenPejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002Analysis of mechanisms which lead to electrical breakdown in argon using the time delay methodPejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2000Analysis of postirradiation annealing of n-channel power vertical double-diffused metal-oxide-semiconductor transistorsRistic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar BНаучни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
2000Nitrogen-filled tube as a sensor of ionizing radiationPejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  Научни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
2000Analysis of mechanisms which lead to electrical breakdown in a krypton-filled tube using the time delay methodPejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2000New experimental evidence of latent interface-trap buildup in power VDMOSFETsJaksic, Aleksandar B; Ristic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo MНаучни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
2000Post-irradiation behavior of commercial power VDMOSFETsJakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo ; Ristić, Goran  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2000Properties of latent interface-trap buildup in irradiated metal-oxide-semiconductor transistors determined by switched bias isothermal annealing experimentsJaksic, Aleksandar B; Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  Научни чланак
21a+M21a+ - Водећи међународни часопис категорије M21a+