Истраживачи

Резултати 121-140 од 148
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2000Isothermal and isochronal annealing experiments on irradiated commercial power VDMOSFETsJaksic, Aleksandar B; Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S  Научни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
1998Radijacioni i posleradijacioni efekti kod VDMOS tranzistora snage i PMOS dozimetrijskih tranzistoraRistić, Goran S.  Докторска дисертација
70M70 - Одбрањена докторска дисертација
1998Modelling of kinetics of creation and passivation of interface traps in metal-oxide-semiconductor transistors during postirradiation annealingRistić, Goran  ; Pejović, Momčilo ; Jakšić, AleksandarНаучни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
1998The behaviour of radiation-induced gate-oxide defects in MOSFETs during annealing at 140°CPejović, Momčilo ; Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran  Научни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
1998Latent interface-trap generation in commercial power VDMOSFETsJakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo ; Ristić, Goran  ; Raković, S.Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1998Numerical simulation of creation-passivation kinetics of interface traps in irradiated n-channel power VDMOSFETs during thermal annealing with various gate biasesRistić, Goran  ; Pejović, Momčilo ; Jakšić, AleksandarНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
1997Efficiency of copper and gold cathode in initiation of secondary emission in nitrogen-filled tubePejović, Momčilo ; Marković, Vidosav  ; Ristić, Goran  ; Mekić, S.Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
1997Formation and passivation of interface traps in irradiated n-channel power VDMOSFETs during thermal annealingPejović, Momčilo ; Ristić, Goran  ; Jakšić, AleksandarНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
1997Processes in n-channel MOSFETS during postirradiation thermal annealingPejović, Momčilo ; Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran  ; Baljošević, B.Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
1997Creation and passivation of interface traps in irradiated MOS transistors during annealing at different temperaturesPejović, Momčilo ; Ristić, Goran  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
1997pMOS dosimetric transistors with two-layer gate oxideRistić, Goran  ; Jakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
1996Analysis of the processes in power MOSFETs during γ-ray irradiation and subsequent thermal annealingJakšić, Aleksandar; Ristić, Goran  ; Pejović, Momčilo Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1996Determination of formative time of electrical breakdown in nitrogen-filled tubePejović, Momčilo ; Marković, Vidosav  ; Ristić, Goran  ; Mekić, S.Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Formative Time Determination in Nitrogen-Filled Tube Using Statistical MethodsPejović, Momčilo ; Živković, Jasmina; Milosavljević, Čedomir ; Ristić, Goran  Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Sensitivity and fading of pMOS dosimeters with thick gate oxideRistić, Goran  ; Golubović, Snežana ; Pejović, Momčilo Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Latent interface-trap generation during thermal annealing of γ-ray irradiated power VDMOSFETsJakšić, Aleksandar; Ristić, Goran  ; Pejovic, Momčilo Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Effects of γ-irradiation and postirradiation thermal annealing in power VDMOSFETsJakšić, Aleksandar; Ristić, Goran  ; Pejović, Momčilo Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Temperature-induced rebound in Al-gate NMOS transistorsPejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran  Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995P-channel metal-oxide-semiconductor dosimeter fading dependencies on gate bias and oxide thicknessRistić, Goran  ; Golubović, Snežana ; Pejović, Momčilo Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran  ; Davidović, Vojkan  ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.