Истраживачи

Филтрирано по:
Година:  [2010 TO 2019]

Резултати 1-20 од 48
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2019Modelling of δvt</sub> in NBT stressed P-channel power VDMOSFETSMitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2019Impact of γ Radiation on Charge Trapping Properties of Nanolaminated HfO2/Al2O3 ALD StacksSpassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Davidović, Vojkan S.  ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Stanković, Srboljub J.  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Ivanov, Tzvetan E.; Stanchev, T.Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2019Procedure merenja električnih karakteristika naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageĐorić-Veljković, Snežana M.  ; Davidović, Vojkan S.  ; Danković, Danijel M.  ; Golubović, Snežana M. ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2018A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav Научна критика и полемика
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2018Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2018Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanjuDavidović, Vojkan S.  ; Danković, Danijel M.  ; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Ivica Manić  ; Prijić, Zoran D.  ; Prijić, Aneta P.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2018NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub  Научни чланак
24M24 - Водећи национални часопис категорије M24
2018NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistorsStojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2017Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran D.  ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Davidović, Vojkan S.  ; Prijić, Aneta P.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; Golubović, Snežana B.  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2017Ispitivanje višeslojnih HfO2/Al2O3 struktura za memorijske komponenteDavidović, Vojkan S.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel M.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2017Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric StacksDavidović, Vojkan S.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel M.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2017NBTI and Radiation Related Degradation and Lifetime Estimation in Power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2016MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORSMarjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Janković, Nebojša Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2016NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS TransistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilic, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2016On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Marjanović, Miloš  ; Ilic, Aleksandar; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2016Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
24M24 - Водећи национални часопис категорије M24
2015Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFETDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2015Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradationDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2015Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2015Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran  ; Janković, Nebojša D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.