Истраживачи

Резултати 21-40 од 81
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2015Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFETDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2015Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradationDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2015Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2015Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran  ; Janković, Nebojša D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2014Recoverable and permanent components of V<inf>T</inf> shift in pulsed NBT stressed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2014Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS TransistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2014Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETsManić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav D. Научни чланак
23M23 - Међународни часопис категорије M23
2014A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETsPrijić, Zoran  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2014Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snageAleksandar Ilić; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2014Recoverable and Permanent Components of V-T Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2014Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS TransistorsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  Поглавље у монографији
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2013The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power VdmosfetĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2013Naponsko temperaturna naprezanja p-kanalnih VDMOS tranzistora snageDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica Đ.  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2013Time-dependent dielectric breakdown in pure and lightly Al-doped Ta2O5 stacksElena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov; Manić, Ivica  ; Albena PaskalevaНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2013Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
23M23 - Међународни часопис категорије M23
2013Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2012Nova metoda za ispitivanje nestabilnosti usled naponsko temperaturnih naprezanja VDMOS tranzistora snageDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Vračar, Ljubomir M.  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Техничко решење
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2012Measurements of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2012Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjimaDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
201228th International Conference on Microelectronics Sponsored by SSCS-Serbia/Montenegro Chapters in May: Over 100 Converge from 22 Countries; Nearly 100 Papers [Chapters]Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.