Истраживачи
Stojadinović, Ninoslav
Година
Мп-кат.
- 35 M30/M60
- 22 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 8 M20/M50
- 6 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 2 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M24+ - Међународни часопис категорије M24+
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 21-40 од 81
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2015 | Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2015 | Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Recoverable and permanent components of V<inf>T</inf> shift in pulsed NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Manić, Ivica Đ. | Научни чланак | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
| 2014 | A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Prijić, Zoran | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snage | Aleksandar Ilić; Prijić, Zoran | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Recoverable and Permanent Components of V-T Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS Transistors![]() | Stojadinović, Ninoslav | Поглавље у монографији | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2013 | The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2013 | Naponsko temperaturna naprezanja p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2013 | Time-dependent dielectric breakdown in pure and lightly Al-doped Ta2O5 stacks | Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2013 | Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
| 2013 | Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | Nova metoda za ispitivanje nestabilnosti usled naponsko temperaturnih naprezanja VDMOS tranzistora snage | Danković, Danijel | Техничко решење | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | Measurements of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | 28th International Conference on Microelectronics Sponsored by SSCS-Serbia/Montenegro Chapters in May: Over 100 Converge from 22 Countries; Nearly 100 Papers [Chapters]![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
