Истраживачи
Stojadinović, Ninoslav
Година
Мп-кат.
- 35 M30/M60
- 22 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 8 M20/M50
- 6 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 2 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M24+ - Међународни часопис категорије M24+
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 41-60 од 81
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2012 | Modelovanje napona praga p-kanalnih VDMOS tranzistora snage tokom naponsko temperaturnih naprezanja i odžarivanja | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors | Prijić, Aneta | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2012 | Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 53M53 - Национални часопис категорије M53 |
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2011 | Hf-doped Ta2O5 stacks under constant voltage stress | Manić, Ivica | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2011 | NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Constant Voltage Stressing of Hf-Doped Ta2O5 Stacks | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2009 | Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2008 | Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2008 | Constant voltage stress induced current in Ta2O5 stacks and its dependence on a gate electrode![]() | Atanassova, E; Stojadinović, Ninoslav D | Научни чланак | 21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a |
| 2007 | Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2007 | Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
