Истраживачи

Резултати 41-60 од 81
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2012Modelovanje napona praga p-kanalnih VDMOS tranzistora snage tokom naponsko temperaturnih naprezanja i odžarivanjaManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2012A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistorsPrijić, Aneta  ; Danković, Danijel  ; Vračar, Ljubomir  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2012Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETSDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
53M53 - Национални часопис категорије M53
2011Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2011Hf-doped Ta2O5 stacks under constant voltage stressManić, Ivica  ; Atanassova, E.; Stojadinović, Ninoslav ; Spassov, D.; Paskaleva, A.Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2011NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditionsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2010Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressĐorić-Veljković, Snežana  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  Конференцијски рад
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2010Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressingDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Constant Voltage Stressing of Hf-Doped Ta2O5 StacksManić, Ivica  ; Stojadinović, Ninoslav ; Elena Atanassova; Dencho SpassovКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias StressManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 StacksManić, Ivica  ; Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho SpassovКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2009Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor TransistorsDavidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2008Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2008Constant voltage stress induced current in Ta2O5 stacks and its dependence on a gate electrodeAtanassova, E; Stojadinović, Ninoslav D ; Paskaleva, A; Spassov, D; Vračar, Ljubomir M  ; Georgieva, MНаучни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
2007Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22