Истраживачи
Stojadinović, Ninoslav
Година
Мп-кат.
- 35 M30/M60
- 22 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 8 M20/M50
- 6 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 2 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M24+ - Међународни часопис категорије M24+
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 61-80 од 81
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2006 | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2006 | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2006 | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2005 | Computer as powerful tool in reliability testing of thin gate dielectrics in MOS devices![]() | Vračar, Ljubomir | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2005 | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2003 | Computer controlled equipment for laboratory exercises in physics and electronics![]() | Vračar, Ljubomir | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2003 | Stress-induced leakage currents in thin silicon dioxide films![]() | Pesić, Biljana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2002 | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2001 | Analytical modelling of electrical characteristics in gamma-irradiated power VDMOS transistors![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 1998 | A new technology computer-aided design (TCAD) system based on neural network models![]() | Pantić, Dragan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 1996 | Charge-pumping characterization of SiO/sub 2//Si interface in virgin and irradiated power VDMOSFETs![]() | Habaš, Predrag | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1995 | Inverse modeling of semiconductor manufacturing processes by neural networks![]() | Pantić, Dragan | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1995 | Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1994 | An efficient multiparticle diffusion simulation by an adaptive multigrid method![]() | Pantić, Dragan | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1992 | The efficient simulation of point diffusion by an adaptive multigrid method![]() | Pantić, Dragan | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1991 | MUSIC — A MULTIGRID SIMULATOR FOR IC FABRICATION PROCESSES![]() | Miljković, Slobodan; Pantić, Dragan | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
