Истраживачи

Резултати 61-80 од 81
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2006NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005Effects of electrical stressing in power VDMOSFETSStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005Computer as powerful tool in reliability testing of thin gate dielectrics in MOS devicesVračar, Ljubomir  ; Pešić, Biljana ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2005Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2003Effects of electrical stressing in power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2003Computer controlled equipment for laboratory exercises in physics and electronicsVračar, Ljubomir  ; Stojadinović, Ninoslav ; Acković, B; Jovanović, SКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2003Stress-induced leakage currents in thin silicon dioxide filmsPesić, Biljana ; Vračar, Ljubomir M  ; Stojadinović, Ninoslav D ; Pecovska-Đorđević, M; Novkovski, NНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2001Analytical modelling of electrical characteristics in gamma-irradiated power VDMOS transistorsManić, Ivica  ; Pavlović, Zoran; Prijić, Zoran  ; Davidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
1998A new technology computer-aided design (TCAD) system based on neural network modelsPantić, Dragan  ; Trajković, Tatjana; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
1996Charge-pumping characterization of SiO/sub 2//Si interface in virgin and irradiated power VDMOSFETsHabaš, Predrag ; Prijić, Zoran  ; Pantić, Dragan  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Inverse modeling of semiconductor manufacturing processes by neural networksPantić, Dragan  ; Milenković, Srđan ; Trajković, Tatjana; Litovski, Vanče ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran  ; Davidović, Vojkan  ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1994An efficient multiparticle diffusion simulation by an adaptive multigrid methodPantić, Dragan  ; Mijalković, S.; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1992The efficient simulation of point diffusion by an adaptive multigrid methodPantić, Dragan  ; Mijalković, S.; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1991MUSIC — A MULTIGRID SIMULATOR FOR IC FABRICATION PROCESSESMiljković, Slobodan; Pantić, Dragan  ; Prijić, Zoran  ; Mitrović, S.; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.