Determination atomic percentage of metal in chalcogenide Ag-As2Ch3 thin layers by rutherford backscattering spectrometry and energy dispersive spectroscopy

Čajko, Kristina O.; Lukić Petrović, Svetlana R.; Nevena Ćelić; Pavol Noga; Dušan Vana

Rezultati

eNauka > Rezultati > Determination atomic percentage of metal in chalcogenide Ag-As2Ch3 thin layers by rutherford backscattering spectrometry and energy dispersive spectroscopy

Naziv:	Determination atomic percentage of metal in chalcogenide Ag-As2Ch3 thin layers by rutherford backscattering spectrometry and energy dispersive spectroscopy
Autori:	Čajko, Kristina O. ; Lukić Petrović, Svetlana R. ; Nevena Ćelić; Pavol Noga; Dušan Vana
Godina:	2019
Publikacija:	3rd International Conference on Applied Surface Science, 3rd International Conference on Applied Surface Science (ICASS 2019), Pisa, Italy, 2019, 17-20.06.2019., No 3
Izdavač:	Elsevier, Pisa, Italy
Tip rezultata:	Konferencijski rad
Kolacija:	str. P1.022-P1.022
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/175600 https://www.elsevier.com/events/conferences/international-conference-on-applied-surface-science https://www.cris.uns.ac.rs/record.jsf?recordId=110982&source=eNauka&language=en
URL:	https://www.elsevier.com/events/conferences/international-conference-on-applied-surface-science
Izvor metapodataka:	Migracija
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.