XAFS AND XPS ANALYSIS OF QUATERNARY II–VI BASED SEMICONDUCTORS

J. Trigueiro; Radisavljević, Ivana; Bundaleski, Nenad K.; Medić Ilić, Mirjana M.; Romčević, Nebojša; O.M.N.D. Teodoro; Ivanović, Nenad

Rezultati

eNauka > Rezultati > XAFS AND XPS ANALYSIS OF QUATERNARY II–VI BASED SEMICONDUCTORS

Naziv:	XAFS AND XPS ANALYSIS OF QUATERNARY II–VI BASED SEMICONDUCTORS
Autori:	J. Trigueiro; Radisavljević, Ivana ; Bundaleski, Nenad K. ; Medić Ilić, Mirjana M. ; Romčević, Nebojša ; O.M.N.D. Teodoro; Ivanović, Nenad
Godina:	2014
Publikacija:	XIII European Vacuum Conference
Izdavač:	European Vacuum Conference, Aveiro (Portugal)
Tip rezultata:	Konferencijski rad
Kolacija:	str. 184-184
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/274606
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.