Резултати 1-1 од 1
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2025 | Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors | Danković, Danijel; Mitrović, Nikola   ; Veljković, Sandra ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan | Уређивачки рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |