Резултати
еНаука >
Резултати >
Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors
| Назив: | Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors | Аутори  : | Danković, Danijel; Mitrović, Nikola   ; Veljković, Sandra ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan |
Уредници: | Veljković, Sandra |
Година: | 2025 | Публикација: | Book of Abstracts - RAD 2025 Conference | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 9788690115082  Претражи идентификатор |
DOI: | 10.21175/rad.abstr.book.2025.9.6 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013192 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | Напомена о доступности: | Пуни текст није јавно доступан | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.