Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors

Results

Naziv:	Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors
Autori :	Danković, Danijel; Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan
Urednici:	Veljković, Sandra
Godina:	2025
Publikacija:	Book of Abstracts - RAD 2025 Conference
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	9788690115082 Pretraži identifikator
DOI:	10.21175/rad.abstr.book.2025.9.6
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013192
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra
Napomena o dostupnosti:	Пуни текст није јавно доступан
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Altmetric

Dimensions

Unpaywall

Google Scholar^TM