Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors
| Naziv: | Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors | Autori  : | Danković, Danijel; Mitrović, Nikola   ; Veljković, Sandra ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan |
Urednici: | Veljković, Sandra |
Godina: | 2025 | Publikacija: | Book of Abstracts - RAD 2025 Conference | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 9788690115082  Pretraži identifikator |
DOI: | 10.21175/rad.abstr.book.2025.9.6 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013192 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | Napomena o dostupnosti: | Пуни текст није јавно доступан | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.