Резултати
eNauka >
Results >
Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors
| Title: | Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors | Authors  : | Danković, Danijel; Mitrović, Nikola   ; Veljković, Sandra ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan |
Editors: | Veljković, Sandra |
Issue Date: | 2025 | Publication: | Book of Abstracts - RAD 2025 Conference | Type: | Conference Paper | ISBN: | 9788690115082  Search Idenfier |
DOI: | 10.21175/rad.abstr.book.2025.9.6 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013192 | Metadata source: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | Availability note: | Пуни текст није јавно доступан | M-category: | Mp. category will be shown later |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.