eNauka - pregled
Pregled prema Autor Spassov, Dencho
Prikaz rezultata 1 do 5 od 5
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2017 | Consideration of conduction mechanisms in high-k dielectric stacks as a tool to study electrically active defects | Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel   | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
| 2026 | Influence of controlling signal parameters and prior stresses on the self-heating of VDMOS power transistors | Veljkovic, S ; Mitrovic, N; Davidovic, Vojkan S ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Marjanovic, M; Zivanovic, Emilija N; Ristic, G ; Dankovic, Danijel M | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2021 | Radiation Tolerance and Charge Trapping Enhancement of ALD HfO2/Al2O3 Nanolaminated Dielectrics | Spassov, Dencho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elżbieta; Davidović, Vojkan ; Stanković, Srboljub J. ; Đorić-Veljković, Snežana ; Ivanov, Tzvetan; Stanchev, Todor; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2025 | Recovery Behavior of VDMOS Transistors under Sequential Irradiation and NBT Stress | Đorić-Veljković, Snežana ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Ristić, Goran ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2022 | Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature Stress | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Stanković, Srboljub ; Andjelković, Marko ; Prijić, Zoran ;
Manić, Ivica
; Prijić, Aneta ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel ; | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |