eNauka - pregled

Pregled prema Autor Zhak, O. V.

Prikaz rezultata 1 do 1 od 1
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2019Electronic structure and X-ray spectroscopic properties of the HfFe2Si2 compoundShcherba, I. D.; Antonov, V. N.; Zhak, O. V.; Bekenov, L. V.; Kovalska, M. V.; Noga, H.; Uskoković, Dragan; Yatcyk, B. M.Naučni članak
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.