eNauka - pregled
Pregled prema Projekat The Integrated Microsystems Austria, IMA GmbH
Prikaz rezultata 1 do 1 od 1
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2008 | Non-contact measurement of thickness uniformity of chemically etched Si membranes by fiber-optic low-coherence interferometry | Đinović, Zoran  ; Tomić, Miloš  ; Manojlović, Lazo ; Lazić, Žarko ; Smiljanić, Milče M. | Poglavlje u monografiji | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |