еНаука - преглед
Преглед према Аутор Ntemou, Eleni
Приказ резултата 1 до 4 од 4
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2019 | Argon ions deeply implanted in silicon studied by Rutherford/Elastic Backscattering and Grazing Incidence X-ray Fluorescence spectroscopy | Kokkoris, Michael; Androulakaki, Effrossyni G.; Czyzycki, Mateusz; Erich, Marko | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2024 | Interdependence of angular distribution and charge state of hyper-channeled keV ions | Petrović, Srđan | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2019 | Raman mapping of 4‐MeV C and Si channeling implantation of 6H‐SiC | Flessa, Aikaterini; Ntemou, Eleni; Kokkoris, Michael; Liarokapis, Efthymios; Gloginjić, Marko | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2024 | Tracing of low-energy protons implanted in different Si crystal orientations by keV recoil detection in transmission geometry | Holenak, Radek; Ntemou, Eleni; Kokkoris, Michael; Petrović, Srđan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |