eNauka - pregled
Pregled prema Autor Czyzycki, Mateusz
Prikaz rezultata 1 do 1 od 1
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2019 | Argon ions deeply implanted in silicon studied by Rutherford/Elastic Backscattering and Grazing Incidence X-ray Fluorescence spectroscopy | Kokkoris, Michael; Androulakaki, Effrossyni G.; Czyzycki, Mateusz; Erich, Marko   ; Karydas, Andreas G.; Leani, Juan J.; Migliori, Alessandro; Ntemou, Eleni; Paneta, Valentina; Petrović, Srđan M. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |