Boutachkov, P.; Browne, F.; de France, Gilles; Doornenbal, P.; Faestermann, T.; Fang, Y.; Fukuda, N.; Giovinazzo, J.; Goel, N.; Gorska, M.; Ilieva, S.; Inabe, N.; Isobe, T.; Jungclaus, A.; Kameda, D.; Kim, Y. -K.; Kwon, Y. K.; Kojouharov, I.; Kubo, T.; Kurz, N.; Lorusso, G.; Lubos, D.; Moschner, K.; Murai, D.; Nishizuka, I.; Park, J.; Patel, Z.; Rajabali, M.; Rice, S.; Schaffner, H.; Shimizu, Y.; Sinclair, L.; Soderstrom, P. -A.; Steiger, K.; Sumikama, T.; Suzuki, H.; Takeda, H.; Wang, Z.; Watanabe, H.; Wu, J.; Xu, Z.;

Grebosz, J. L.; Kruecken, R.; Kurz, N.; Liu, Z.; Maier, L.; Nowacki, F.; Pietri, S.; Podolyak, Zs; Sieja, K.; Steiger, K.; Straub, K.; Weick, H.; Wollersheim, H. -J.; Woods, P. J.; Al-Dahan, N.; Alkhomashi, N.; Atac, A.; Blazhev, A.; Braun, N. F.; Čeliković, Igor T.  ; Davinson, Thomas; Dillmann, I.; Domingo-Pardo, C.; Doornenbal, P. C.; de France, Gilles; Farrelly, G. F.; Farinon, F.; Goel, N.; Habermann, T. C.; Hoischen, R.; Janik, R.; Karny, M.; Kaskas, A.; Kojouharov, I. M.; Kroell, Th; Litvinov, Y.; Myalski, S.; Nebel, F.; Nishimura, S.; Nociforo, C.; Nyberg, J.; Parikh, A. R.; Prochazka, A.; Regan, P. H.; Rigollet, C.; Schaffner, H.; Scheidenberger, C.; Schwertel, S.; Soederstroem, P. -A.; Steer, S. J.; Stolz, A.; Strmen, P.;