eNauka - pregled

Pregled prema Autor Ntemou, Eleni

Prikaz rezultata 1 do 4 od 4
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2019Argon ions deeply implanted in silicon studied by Rutherford/Elastic Backscattering and Grazing Incidence X-ray Fluorescence spectroscopyKokkoris, Michael; Androulakaki, Effrossyni G.; Czyzycki, Mateusz; Erich, Marko  ; Karydas, Andreas G.; Leani, Juan J.; Migliori, Alessandro; Ntemou, Eleni; Paneta, Valentina; Petrović, Srđan M.  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Interdependence of angular distribution and charge state of hyper-channeled keV ionsPetrović, Srđan  ; Starčević, Nikola  ; Holeňák, Radek; Ntemou, Eleni; Primetzhofer, DanielKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2019Raman mapping of 4‐MeV C and Si channeling implantation of 6H‐SiCFlessa, Aikaterini; Ntemou, Eleni; Kokkoris, Michael; Liarokapis, Efthymios; Gloginjić, Marko  ; Petrović, Srđan M.  ; Erich, Marko  ; Fazinić, Stjepko; Karlušić, Marko; Tomić, KristinaНаучни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2024Tracing of low-energy protons implanted in different Si crystal orientations by keV recoil detection in transmission geometryHolenak, Radek; Ntemou, Eleni; Kokkoris, Michael; Petrović, Srđan  ; Primetzhofer, DanielНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22