eNauka - pregled
Pregled prema Autor Ntemou, Eleni
Prikaz rezultata 1 do 4 od 4
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2019 | Argon ions deeply implanted in silicon studied by Rutherford/Elastic Backscattering and Grazing Incidence X-ray Fluorescence spectroscopy | Kokkoris, Michael; Androulakaki, Effrossyni G.; Czyzycki, Mateusz; Erich, Marko | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Interdependence of angular distribution and charge state of hyper-channeled keV ions | Petrović, Srđan | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2019 | Raman mapping of 4‐MeV C and Si channeling implantation of 6H‐SiC | Flessa, Aikaterini; Ntemou, Eleni; Kokkoris, Michael; Liarokapis, Efthymios; Gloginjić, Marko | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2024 | Tracing of low-energy protons implanted in different Si crystal orientations by keV recoil detection in transmission geometry | Holenak, Radek; Ntemou, Eleni; Kokkoris, Michael; Petrović, Srđan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |