eNauka - pregled
Pregled prema Autor Schreurs, Dominique M. M.-P.
Prikaz rezultata 1 do 8 od 8
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2014 | A Neural Network Approach for Nonlinear Modelling of LDMOSFETs | Marinković, Zlatica   ; Crupi, Giovanni; Raffo, Antonio; Bosi, Gianni; Avolio, Gustavo; Marković, Vera ; Caddemi, Alina; Vannini, Giorgio; Schreurs, Dominique M. M.-P. | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 2014 | An Extensive Experimental Analysis of the Kink Effects in ${ S}_{22}$ and ${ h}_{21}$ for a GaN HEMT | Crupi, Giovanni; Raffo, Antonio; Marinković, Zlatica ; Avolio, Gustavo; Caddemi, Alina; Marković, Vera ; Vannini, Giorgio; Schreurs, Dominique M. M.-P. | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2013 | Artificial Neural Network Modeling for Transistors and Varactors in FinFET Technology | Marinković, Zlatica ; Crupi, Giovanni; Schreurs, Dominique M. M.-P.; Caddemi, Alina; Marković, Vera | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 2014 | Microwave neural modeling for silicon FinFET varactors | Marinković, Zlatica ; Crupi, Giovanni; Schreurs, Dominique M. M.-P.; Caddemi, Alina; Marković, Vera | Article | 22M22 |
| 2017 | Multi-Bias Equivalent Circuit for MOSFET Modelling | Crupi, Giovanni; Marinković, Zlatica ; Schreurs, Dominique M. M.-P.; Marković, Vera ; Caddemi, Alina | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2012 | Multibias neural modeling of fin field-effect transistor admittance parameters | Marinković, Zlatica ; Crupi, Giovanni; Schreurs, Dominique M. M.-P.; Caddemi, Alina; Marković, Vera | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2015 | Neural approach for temperature-dependent modeling of GaN HEMTs | Marinković, Zlatica ; Crupi, Giovanni; Caddemi, Alina; Avolio, Gustavo; Raffo, Antonio; Marković, Vera ; Vannini, Giorgio; Schreurs, Dominique M. M.-P. | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2017 | Neural Procedure for Microwave MOSFET Modelling versus Bias and Gate Length | Marinković, Zlatica ; Crupi, Giovanni; Schreurs, Dominique M. M.-P.; Caddemi, Alina; Marković, Vera | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |