еНаука - преглед

Преглед према Аутор Spassov, Dencho

Приказ резултата 1 до 5 од 5
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2017Consideration of conduction mechanisms in high-k dielectric stacks as a tool to study electrically active defectsPaskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Научни чланак
24M24 - Водећи национални часопис категорије M24
2026Influence of controlling signal parameters and prior stresses on the self-heating of VDMOS power transistorsVeljkovic, S; Mitrovic, N; Davidovic, Vojkan S  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Marjanovic, M; Zivanovic, Emilija N; Ristic, G; Dankovic, Danijel MНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2021Radiation Tolerance and Charge Trapping Enhancement of ALD HfO2/Al2O3 Nanolaminated DielectricsSpassov, Dencho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elżbieta; Davidović, Vojkan  ; Stanković, Srboljub J.  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Ivanov, Tzvetan; Stanchev, Todor; Stojadinović, NinoslavНаучни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
2025Recovery Behavior of VDMOS Transistors under Sequential Irradiation and NBT StressĐorić-Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2022Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature StressVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Stanković, Srboljub  ; Andjelković, Marko ; Prijić, Zoran  ;
Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  ;
Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22