eNauka - pregled
Pregled prema Autor Van, Gestel Nick
Prikaz rezultata 1 do 1 od 1
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2011 | Accuracy improvement of laser line scanning for feature measurements on CMM | Besic, Igor; Van, Gestel Nick; Kruth, Jean-Pierre; Bleys, Philip; Hodolic, Janko | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |