еНаука - преглед
Преглед према Пројекат The Integrated Microsystems Austria, IMA GmbH
Приказ резултата 1 до 1 од 1
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2008 | Non-contact measurement of thickness uniformity of chemically etched Si membranes by fiber-optic low-coherence interferometry | Đinović, Zoran  ; Tomić, Miloš  ; Manojlović, Lazo ; Lazić, Žarko ; Smiljanić, Milče M. | Поглавље у монографији | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |