Rezultati 1-20 od 80
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2025The SPICE Modeling of a Radiation Sensor Based on a MOSFET with a Dielectric HfO2/SiO2 Double-LayerMarjanović, Miloš  ; Ilić, Stefan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Umutcan Gurer; Ozan Yilmaz; Aysegul Kahraman; Aliekber Aktag; Huseyin Karacali; Erhan Budak;
Danković, Danijel  ; Ristić, Goran  ; Ercan Yilmaz;
Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2024The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditionsVeljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Albena Paskaleva; Dencho Spassov; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Thermal annealing induced recovery of the VT of irradiated commercial MOS transistorsMitrović, Nikola  ; Guirado, Damian; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelNaučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2024Istorijat i razvoj elektronike u NišuDanković, Danijel  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Veljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024SPICE modeling and simulation of RADFETsMarjanović, Miloš  ; Gurer, U.; Doganci, E.; Veljković, Sandra  ; Ilić, S.; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Yilmaz, E.Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Design and testing of low-cost portable magnetometer for consumer applicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2024Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS TransistorVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory CapacitorsSpassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  Article
22M22
2024Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS TransistorsĐorić Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Article
21M21
2024Laboratorijske vežbe iz oblasti mikroelektronike uvirtuelnoj realnostiGavrić, Aleksandar  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Veljković, Sandra  ; Danković, Milan; Stanimirović, Aleksandar  ; Stoimenov, Leonid  Conference Paper
Mp. category will be shown later
2024A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature StressŽivanović, Emilija  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Article
21M21
2024Modified SPICE-Compatible Model Integrating NBTI and Self-Heating Effects for VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Źivanović, Emilija  ; Gavrić, Aleksandar  ; Danković, Danijel  Conference Paper
Mp. category will be shown later
2024Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Conference Paper
Mp. category will be shown later
2024The role of OLED devices in the development of smart citiesĐorić Veljković, Snežana  ; Mitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  Article
24M24
2023Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Paskaleva, Albena; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Conference Paper
Mp. category will be shown later
2023Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and IrradiationVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Živanović, Emilija  ; Stanković, Srboljub  ; Anđelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Paskleva, Albena;
Spassov, Dentcho; Danković, Danijel  ;
Conference Paper
Mp. category will be shown later
2023SPICE Modeling of RADFETs with Different Gate Oxide ThicknessesMarjanović, Miloš  ; Gürer, U.; Mitrović, Nikola  ; Yilmaz, O.; Danković, Danijel  ; Budak, E.; Ristić, Goran  ; Yilmaz, ErcanConference Paper
Mp. category will be shown later
2023The Importance of Students’ Practical Work in High Schools for Higher Education in Electronic EngineeringDanković, Danijel  ; Marjanović, Miloš  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Danković, Milan; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  Article
21M21
2023Consecutive Irradiation and Thermal Annealing of Commercial P-Channel Power VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Guirado, D.; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelConference Paper
Mp. category will be shown later