Резултати
еНаука >
Резултати >
Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor After NBT Stress and Relaxation
| Назив: | Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor After NBT Stress and Relaxation | Аутори: | Đorđević, Dunja; Tasić, Lana; Veselinović, Nevena; Petrović, Marija; Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel |
Година: | 2025 | Публикација: | 2025 IEEE 34th International Conference on Microelectronics (MIEL) | ISSN: | 2159-1679  Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 979-8-3315-1418-1 Претражи идентификатор |
Колација: | str. 1-4 | DOI: | 10.1109/miel66332.2025.11261184 | WoS-ID: | 001661593600014 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013198 | Пројекат: | L'Oreal-UNESCO | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.