Results
eNauka >
Rezultati >
Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor After NBT Stress and Relaxation
| Naziv: | Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor After NBT Stress and Relaxation | Autori: | Đorđević, Dunja; Tasić, Lana; Veselinović, Nevena; Petrović, Marija; Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel |
Godina: | 2025 | Publikacija: | 2025 IEEE 34th International Conference on Microelectronics (MIEL) | ISSN: | 2159-1679  Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 979-8-3315-1418-1 Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 1-4 | DOI: | 10.1109/miel66332.2025.11261184 | WoS-ID: | 001661593600014 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013198 | Projekat: | L'Oreal-UNESCO | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.