Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Impact of Bias Temperature Stress, Irradiation and Self-Heating Effects on p-Channel Power VDMOS Transistors
Naziv: Impact of Bias Temperature Stress, Irradiation and Self-Heating Effects on p-Channel Power VDMOS Transistors
Autori: Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  
Godina: 2025
Publikacija: First TAICHIP Winter School: Reliable Hardware Infrastructure for Upcoming AI Chips, 10-12 February, Germany, 2025, p. 22.
Tip rezultata: Informativni prilog
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013200
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra
Napomena o dostupnosti: Подаци и/или пуни текст су непотпуни
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI


Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.