Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Impact of Bias Temperature Stress, Irradiation and Self-Heating Effects on p-Channel Power VDMOS Transistors
| Naziv: | Impact of Bias Temperature Stress, Irradiation and Self-Heating Effects on p-Channel Power VDMOS Transistors | Autori: | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel |
Godina: | 2025 | Publikacija: | First TAICHIP Winter School: Reliable Hardware Infrastructure for Upcoming AI Chips, 10-12 February, Germany, 2025, p. 22. | Tip rezultata: | Informativni prilog | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013200 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra | Napomena o dostupnosti: | Подаци и/или пуни текст су непотпуни | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.