Резултати
еНаука >
Резултати >
Impact of Bias Temperature Stress, Irradiation and Self-Heating Effects on p-Channel Power VDMOS Transistors
| Назив: | Impact of Bias Temperature Stress, Irradiation and Self-Heating Effects on p-Channel Power VDMOS Transistors | Аутори: | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel |
Година: | 2025 | Публикација: | First TAICHIP Winter School: Reliable Hardware Infrastructure for Upcoming AI Chips, 10-12 February, Germany, 2025, p. 22. | Тип резултата: | Информативни прилог | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013200 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra | Напомена о доступности: | Подаци и/или пуни текст су непотпуни | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.