eNauka - pregled

Pregled prema Autor Dinu, Dan

Prikaz rezultata 1 do 1 od 1
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2005Pulse voltage stress degradation of 4H-SiC Schottky diodes studied by I-V and noise measurementsJevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M; Dinu, DanKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.