Резултати
еНаука >
Резултати >
Pulse voltage stress degradation of 4H-SiC Schottky diodes studied by I-V and noise measurements
| Назив: | Pulse voltage stress degradation of 4H-SiC Schottky diodes studied by I-V and noise measurements | Аутори: | Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M; Dinu, Dan | Година: | 2005 | Публикација: | CAS 2005: INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR CONFERENCE VOL 1 AND 2 | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 369-372 | WoS-ID: | 000237180300081 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/813590 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.