Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Pulse voltage stress degradation of 4H-SiC Schottky diodes studied by I-V and noise measurements
| Naziv: | Pulse voltage stress degradation of 4H-SiC Schottky diodes studied by I-V and noise measurements | Autori: | Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M; Dinu, Dan | Godina: | 2005 | Publikacija: | CAS 2005: INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR CONFERENCE VOL 1 AND 2 | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 369-372 | WoS-ID: | 000237180300081 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/813590 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.