eNauka - pregled
Pregled prema Autor Jevtic, MM
Prikaz rezultata 1 do 1 od 1
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 1997 | Self consistent fitting method for defect analysis by low-frequency noise measurements in reverse biased p-n junctions | Jevtic, MM; Lazovic, MV | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |