Резултати

еНаука >  Резултати >  Self consistent fitting method for defect analysis by low-frequency noise measurements in reverse biased p-n junctions
Назив: Self consistent fitting method for defect analysis by low-frequency noise measurements in reverse biased p-n junctions
Аутори: Jevtic, MM; Lazovic, MV
Година: 1997
Публикација: Solid-state Electronics
ISSN: 0038-1101 Solid-state Electronics Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 41 br. 8 str. 1127-1131
DOI: 10.1016/S0038-1101(97)00058-0
WoS-ID: A1997XM75200011
Scopus-ID: 2-s2.0-0031210490
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/335155
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/2077
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

8
SCOPUSTM
8
OpenCitations
8
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.