Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Self consistent fitting method for defect analysis by low-frequency noise measurements in reverse biased p-n junctions
Naziv: Self consistent fitting method for defect analysis by low-frequency noise measurements in reverse biased p-n junctions
Autori: Jevtic, MM; Lazovic, MV
Godina: 1997
Publikacija: Solid-state Electronics
ISSN: 0038-1101 Solid-state Electronics Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 41 br. 8 str. 1127-1131
DOI: 10.1016/S0038-1101(97)00058-0
WoS-ID: A1997XM75200011
Scopus-ID: 2-s2.0-0031210490
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/335155
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/2077
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

8
SCOPUSTM
8
OpenCitations
8
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.