eNauka - pregled
Pregled prema Autor M Artemyev
Prikaz rezultata 1 do 1 od 1
Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
---|---|---|---|---|
2019 | Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry | Jakovljević, Milka M. ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |