Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry

Jakovljević, Milka M.; Aškrabić, Sonja M.; M Artemyev; AV Prudnikau; AV Antanovich; Isić, Goran M.; Vasić, Borislav Z.; U Ralević; Dohčević-Mitrović, Zorana D.; Gajić, Radoš B.

Резултати

еНаука > Резултати > Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry

Назив:	Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry
Аутори:	Jakovljević, Milka M. ; Aškrabić, Sonja M. ; M Artemyev; AV Prudnikau; AV Antanovich; Isić, Goran M. ; Vasić, Borislav Z. ; U Ralević; Dohčević-Mitrović, Zorana D. ; Gajić, Radoš B.
Година:	2019
Публикација:	Photonica2019: 7th International School and conference on Photonics
Издавач:	Institut za nuklearne nauke VINČA, Beograd
Тип резултата:	Конференцијски рад
ISBN:	978-86-7306-153-5 Претражи идентификатор
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/309100
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.