Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry

Jakovljević, Milka M.; Aškrabić, Sonja M.; M Artemyev; AV Prudnikau; AV Antanovich; Isić, Goran M.; Vasić, Borislav Z.; U Ralević; Dohčević-Mitrović, Zorana D.; Gajić, Radoš B.

Rezultati

eNauka > Rezultati > Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry

Naziv:	Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry
Autori:	Jakovljević, Milka M. ; Aškrabić, Sonja M. ; M Artemyev; AV Prudnikau; AV Antanovich; Isić, Goran M. ; Vasić, Borislav Z. ; U Ralević; Dohčević-Mitrović, Zorana D. ; Gajić, Radoš B.
Godina:	2019
Publikacija:	Photonica2019: 7th International School and conference on Photonics
Izdavač:	Institut za nuklearne nauke VINČA, Beograd
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-86-7306-153-5 Pretraži identifikator
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/309100
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.