Резултати
еНаука >
Резултати >
Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry
Назив: | Point-by-point inversion vs. parametrized fitting of ultrathin films dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry | Аутори: | Jakovljević, Milka M. ; Aškrabić, Sonja M. ; M Artemyev; AV Prudnikau; AV Antanovich; Isić, Goran M. ; Vasić, Borislav Z. ; U Ralević; Dohčević-Mitrović, Zorana D. ; Gajić, Radoš B. | Година: | 2019 | Публикација: | Photonica2019: 7th International School and conference on Photonics | Издавач: | Institut za nuklearne nauke VINČA, Beograd | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-7306-153-5 Претражи идентификатор | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/309100 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.