еНаука - преглед
Преглед према Аутор Rothleitner, H
Приказ резултата 1 до 1 од 1
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2008 | The study of ESD induced defects in smart power ESD protection circuits using low frequency noise measurements | Hadzi-Vukovic, Jovan M; Jevtic, Milan M; Glavanovics, M; Rothleitner, H | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |