Резултати

еНаука >  Резултати >  The study of ESD induced defects in smart power ESD protection circuits using low frequency noise measurements
Назив: The study of ESD induced defects in smart power ESD protection circuits using low frequency noise measurements
Аутори: Hadzi-Vukovic, Jovan M; Jevtic, Milan M; Glavanovics, M; Rothleitner, H
Година: 2008
Публикација: PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE
ISSN: 1862-6300 Physica Status Solidi. A: Applications and Materials Science Претражи идентификатор
Тип резултата: Конференцијски рад
Колација: vol. 205 br. 11 str. 2544-2547
DOI: 10.1002/pssa.200780115
WoS-ID: 000261088200011
Scopus-ID: 2-s2.0-55849113277
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/805031
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

1
SCOPUSTM
1
OpenCitations
1
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.